日本densoku渦流膜測厚儀DS-110

更新日期：2024-05-11

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廠商性質：經銷商

生產地址：

簡要描述：

日本densoku渦流膜測厚儀DS-110
晶體振蕩可實現(xiàn)
彎曲/球形對的高精度和短測量時間。

在線詢價聯(lián)系我們

產品介紹

日本densoku渦流膜測厚儀DS-110

?測量值顯示為數(shù)字且易于閱讀
?接通電源后立即開始測量，測量時間在1秒以內
?晶體振蕩法的高穩(wěn)定性（±1％）高精度?可進行
檢查無損
?直接讀取由于是表達方式，因此無需轉換

渦流膜厚儀DS-110的特點

易于閱讀的數(shù)字

測量值顯示是數(shù)字的，易于閱讀。

可以立即進行測量

開關一打開就可以進行測量。測量時間也在1秒以內。

高穩(wěn)定性（±1％）高精度

由于采用了晶體振蕩方法，因此具有很高的穩(wěn)定性（±1％）和高精度。

可以檢查

由于它是非破壞性的，因此可以進行的檢查。

無需轉換

它是直接讀取類型，不需要轉換。

支持各種測量

它可以測量金屬上的薄膜，鍍層，油漆，樹脂等。（例如：鋁上的氧化膜，鐵上的鋅鍍層，噴漆）

最多可保存1000個數(shù)據(jù)

一條檢查線可以保存1000條數(shù)據(jù)。

還可以測量非金屬上的金屬涂層

它可以測量非金屬上的金屬涂層（例如，塑料上的鍍層）。

標配4種類型，最多可以測量70種薄膜厚度

切換開關最多可以測量4種類型的膜厚。另外，通過在制造商處更換檢測線，可以測量70多種類型的膜厚。

可以在彎曲表面，球形表面和內部管道上進行測量

也可以在彎曲表面和球形表面上進行測量。另外，可以測量管等的內表面（φ12.7mm以上）。

打印輸出功能

您可以打印出測量數(shù)據(jù)和經過統(tǒng)計處理的值。

測量原理

當載有高頻電流的探頭（測量線圈）靠近金屬時，在金屬表面會產生渦電流。該渦電流受到高頻磁場的強度和頻率，金屬的電導率，厚度，形狀等的影響，并且穿透深度及其大小不同。
然后，渦流流動以抵消探針的高頻磁場，從而探針的高頻電阻值改變。高頻電阻值的這種變化被放大，曲線校正并顯示為數(shù)字值。因此，膜厚值可以直接讀取為數(shù)字。曲線校正是由微型計算機計算的。因此，它是高精度和高度穩(wěn)定的。

渦流膜厚儀DS-110的規(guī)格

電源	帶AC適配器的AC100V-240V
重量	3.4公斤
尺寸	330（W）x 90（D）x 180（H）毫米

渦流膜厚儀DS-110的探頭規(guī)格

1. 　探頭有效范圍使用超細探頭時	φ5mm的 φ3mm的
2.探頭線長	900毫米
3.根據(jù)導向器的類型可以在彎曲的表面上進行測量
4.探頭類型	MP類型...平坦凹凸曲面（標準） SM類型...平坦凹凸曲面（微細的） RP類型...凹面，管內面 SR型...用于小直徑管道內表面由所述膜測得的探頭A，B的厚度，有C和D四種類型。
5.探針指南	＃180：平面測量＃120：φ25-60mm凸曲面測量